Тестер предназначен для диагностики целостности шлейфов интерфейса LVDS (30-40 pin) и eDP (30-40 pin) распространенных,стандартных матриц.
Позволяет выявить ненадежные контакты в поврежденных проводниках, методом механического воздействия на шлейф. Либо выявить проблему в случаях отсутствия изображения по причине обрывов. Также, тестер позволяет определить наличие коротких замыканий в шлейфе.
Подключается к шлейфу со стороны матрицы. Для диагностики обрывов, требуется подключение шлейфа к материнской плате ноутбука.
Проверка на наличие коротких замыканий осуществляется без подключения к МП.
При использовании тестера, материнская плата должна быть обесточена!
Питание тестера.
Включение автоматическое, при подключении шлейфа к любому из разъемов.
Питание осуществляется от Li-Ion аккумулятора. Для его подключения, с обратной стороны платы находятся площадки под пайку проводов.
Защита от обратной полярности не предусмотрена, будьте внимательны!
